什么叫做荧光x射线（什么是荧光x射线）
摘要：
本篇目录：1、x射线与荧光2、X射线荧光分析的基本介绍... 本篇目录：
- 1、x射线与荧光
- 2、X射线荧光分析的基本介绍
- 3、特征x射线与荧光x射线的产生机理有何异同
- 4、什么是X射线荧光技术?
- 5、EDX是什么?
x射线与荧光
x射线：X射线是一种波长极短，能量很大的电磁波。x射线的性质及物理特性：穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。电离作用。
处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。
荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后，发射出的能量较低的X射线。
X射线荧光分析的基本介绍
荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后，发射出的能量较低的X射线。
X射线荧光光谱分析仪的主要部件为：激发源、探测器、高压电源、前置放大器、主放大器、模数转换器。获得X射线荧光光谱的方法 X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，是一种非破坏性的仪器分析方法。
透射电子：若样品很薄，部分电子穿过试样成为透射电子。因此，对于薄样，可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
“X射线荧光”，是指受X射线(“照射光”)照射激发之后发出的“次级X射线”——它与“照射光”的波长和能量都不同。
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
对于X射线荧光有一个通俗易懂的解释：我们知道所有的物质都是由原子构成的。
特征x射线与荧光x射线的产生机理有何异同
特征x射线为电子击靶，使原子内层电子击出，外层电子跃迁而激发出x射线；荧光x射线为x射线照射使原子内层电子激发，外层电子跃迁而发出x射线，也叫二次特征辐射。
处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。
产生特征X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。在撞击过程中，电子突然减速，失去的动能（1%）将以光子的形式释放出来，形成X射线光谱的连续部分，称为制动辐射。
产生X射线的原理是用加速后的电子撞击金属靶，撞击过程中电子突然减速，其损失的动能（以光子形式放出，形成X光光谱连续部分。通过加大加速电压，电子携带的能量增大将金属原子的内层电子撞出。
产生特征X射线谱的根本原因是原子内层电子的跃迁。根据原子结构壳层理论，原子核周围的电子分布在若干壳层中，处于每一壳层的电子有其自身特定的能量。
什么是X射线荧光技术?
1、XRF指的是X射线荧光光谱仪（X-Ray Fluorescence Spectrometer），是一种利用样品中元素发射出的X射线来分析元素组成的仪器。XRF技术是非破坏性分析技术，在工业、环保、医疗、考古等领域都有广泛应用。
2、荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后，发射出的能量较低的X射线。
3、x射线：X射线是一种波长极短，能量很大的电磁波。x射线的性质及物理特性：穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。电离作用。
4、X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。
5、X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDX）。
EDX是什么?
1、EDS是能谱分析，EDX是荧光分析，EDXRF是能量色散型荧光X射线，目前有害物质分析仪和一些镀层厚度分析仪利用此原理。
2、EDX：Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer 能量色散X射线光谱仪。两者联系：都是一种测试仪器。ED-XRF是EDX的一种，ED-XRF即能量色散型X射线荧光光谱仪。
3、EDX：Energy Dispersive X-Ray Fluoresence Spectrometer 能量色散X射线荧光光谱仪。X射线荧光光谱仪是基于偏振能量色散X荧光光谱仪（ED－XRF）的分析方法。
4、EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。
5、EDX，全称Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy，能量色散X射线光谱仪，EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的；根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。
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